S.Sato et al.: "Structural Study of Thin Amorphous SiO2 and Si3N4 Films by the Grazing Incidence X-ray Scattering (GIXS) Method" High Temp.Mater.Proc.(印刷中). (1998)
S.Sato et al.: "Structural Study of Thin Amorphous SiO2 and Si3N4 Films by the Grazing Incidence X-ray Scattering (GIXS) Method" High Temp.Mater.Proc.(印刷中). (1998)
复制标题
S.Sato 等人：“通过掠入射 X 射线散射 (GIXS) 方法研究薄非晶 SiO2 和 Si3N4 薄膜”High Temp.Mater.Proc（出版中）。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
