Development of a New Microscopic Four-Point AFM Probe for the Measurement of Local Electrical Conductivity

Development of a New Microscopic Four-Point AFM Probe for the Measurement of Local Electrical Conductivity
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开发用于测量局部电导率的新型显微四点 AFM 探针

DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Proc. 2005 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, HEMS, and Electronic Systems(CD-ROM) IPACK2005-73433
影响因子：
--
通讯作者：
B. -F. Ju (Y. Ju and M. Saka)
B. -F. Ju (Y. Ju and M. Saka)
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
B. -F. Ju (Y.Ju;M. Saka;et. al.);Y. Ju (H. Sato and H. Soyama);B. -F. Ju (Y. Ju and M. Saka)

文献摘要

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