Comparison of Wetting Properties between GeO2/Ge and SiO2/Si Revealed by in-situ XPS
Comparison of Wetting Properties between GeO2/Ge and SiO2/Si Revealed by in-situ XPS
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原位 XPS 显示 GeO2/Ge 和 SiO2/Si 润湿性能比较
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kenta Arima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Naoki Saito;Kenta Arima et al.;Kenta Arima
