坂上 弘之: "Scanning Tunneling Microscopy Observation on Atomic Structures of Step Edges and Etch Pits on NH_4F-Treated Si(lll) Surface" Extended Abstracts of the 1996 International Conf.on Solid State Devices and Materials. 392-364 (1996)
坂上 弘之: "Scanning Tunneling Microscopy Observation on Atomic Structures of Step Edges and Etch Pits on NH_4F-Treated Si(lll) Surface" Extended Abstracts of the 1996 International Conf.on Solid State Devices and Materials. 392-364 (1996)
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Hiroyuki Sakagami：“扫描隧道显微镜观察 NH_4F 处理的 Si(III) 表面的阶梯边缘和蚀刻坑的原子结构”1996 年国际固态器件和材料会议的扩展摘要 392-364 (1996)。
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