Electronic properties for the C_<2V>, and C_S isomers of Pr@C_<82> studied by Raman, resistivity, and scanning tunnering microscopy/spectroscopy
Electronic properties for the C_<2V>, and C_S isomers of Pr@C_<82> studied by Raman, resistivity, and scanning tunnering microscopy/spectroscopy
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通过拉曼、电阻率和扫描调谐显微镜/光谱研究 Pr@C_<82> 的 C_<2V> 和 C_S 异构体的电子特性
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Iwasa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Hosokawa;S.Fujiki;E.Kuwahara;Y.Kubozono;H.Kitagawa;A.Fujiwara;T.Takenobu;Y.Iwasa
