Efficient critical area measurements of IC layout applied to quality and reliability enhancement
Efficient critical area measurements of IC layout applied to quality and reliability enhancement
复制标题
IC 布局的高效关键面积测量可提高质量和可靠性
DOI：
10.1016/s0026-2714(97)00021-8
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发表时间：
1997
影响因子：
1.6
通讯作者：
A. Walton
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. A. Allan;A. Walton
