Imaging nano-scale electronic inhomogeneity in lightly doped Mott insulator Ca_2_xNa_xCuO_2Cl_2
Imaging nano-scale electronic inhomogeneity in lightly doped Mott insulator Ca_2_xNa_xCuO_2Cl_2
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轻掺杂莫特绝缘体 Ca_2_xNa_xCuO_2Cl_2 中纳米级电子不均匀性的成像
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Kohsaka et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Kohsaka et al.
