Evaluation of Bi Defects in BiS2-based superconductors by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy
Evaluation of Bi Defects in BiS2-based superconductors by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy
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通过扫描隧道显微镜和光谱法评估 BiS2 基超导体中的 Bi 缺陷
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Fujisawa and H. Sakata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Demura;N. Ishida;Y. Fujisawa and H. Sakata
