Hao Wu: "Test Length Minimization under Power Constraints for Combinational Circuits"Digest of Papers IEEE 4th Workshop on RTL and High Level Testing. 125-127 (2003)
Hao Wu: "Test Length Minimization under Power Constraints for Combinational Circuits"Digest of Papers IEEE 4th Workshop on RTL and High Level Testing. 125-127 (2003)
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吴浩：“组合电路功率约束下的测试长度最小化”论文摘要 IEEE 第四届 RTL 和高级测试研讨会。
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