T. Endo et al: "Obsercation of lattice defects using scanning tunneling microscopy/sertroscopy at low tempertures" J. Vac. Sci. Technol.B12. 1652-1654 (1994)
T. Endo et al: "Obsercation of lattice defects using scanning tunneling microscopy/sertroscopy at low tempertures" J. Vac. Sci. Technol.B12. 1652-1654 (1994)
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T. Endo 等人：“在低温下使用扫描隧道显微镜/sertroscopy 观察晶格缺陷”J. Vac。
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