Fumio KOJIMA: "Defect profiles identification of conducting materials using HTS-SQUID gradiometer with multiple frequencies"Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation. 20(掲載決定). (2001)
Fumio KOJIMA: "Defect profiles identification of conducting materials using HTS-SQUID gradiometer with multiple frequencies"Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation. 20(掲載決定). (2001)
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小岛文雄：“使用多频率 HTS-SQUID 梯度仪识别导电材料的缺陷轮廓”定量无损评估进展评论 20（决定出版）。
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