A new form measurement system based on subaperture stitching with a line-scanning interferometer
A new form measurement system based on subaperture stitching with a line-scanning interferometer
复制标题
基于线扫描干涉仪子孔径拼接的新型形状测量系统
DOI：
10.1515/aot-2016-0039
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发表时间：
2016
影响因子：
1.8
通讯作者：
Sören Laubach
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Sören Laubach
使用具有正弦路径长度调制的线扫描干涉仪连续测量光学表面
影响因子：
3.8
作者：
Holger Knell
通讯作者：
Holger Knell
探针系统的有限元建模与仿真
DOI：
--
发表时间：
2005
期刊：
2005 IEEE Instrumentationand Measurement Technology Conference Proceedings
影响因子：
--
作者：
M.R. Salleh;Q. Yang;B. Jones
通讯作者：
B. Jones