热循环退火对InAs/Si(211)薄膜结构和电学性能的影响
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DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
刘翔
中科院分区：
文献类型：
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作者：
张明;郭治平;吴长树;刘翔
