On-Wafer Capacitance Measurement of Nb-Based SIS Junctions With a 4-K Probe Station
On-Wafer Capacitance Measurement of Nb-Based SIS Junctions With a 4-K Probe Station
复制标题
使用 4-K 探针台测量铌基 SIS 结的晶圆电容
DOI：
--
复制
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and Y. Uzawa
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Kojima;M. Kroug;K. Sato;T. Sakai;and Y. Uzawa
