Akira Usami: "Highーsensitivity surface Characterization with injected carriers by laser beam using focused reflectance microwave probe method" Journal of Crystal Growth. 103. 179-187 (1990)
Akira Usami: "Highーsensitivity surface Characterization with injected carriers by laser beam using focused reflectance microwave probe method" Journal of Crystal Growth. 103. 179-187 (1990)
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Akira Usami：“使用聚焦反射微波探针方法通过激光束注入载流子进行高灵敏度表面表征”《晶体生长杂志》103. 179-187 (1990)。
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