Twin-probe Atomic Force Microscopy with Optical Beam Deflection using Vertically Incident Lasers by Two Beam Splitter
Twin-probe Atomic Force Microscopy with Optical Beam Deflection using Vertically Incident Lasers by Two Beam Splitter
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使用两个分束器垂直入射激光进行光束偏转的双探针原子力显微镜
DOI：
10.1541/ieejsmas.135.135
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发表时间：
2015
影响因子：
--
通讯作者：
山田 啓文
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐藤 宣夫;常見 英加;小林 圭;小松原 隆司;樋口 誠司;松重 和美;山田 啓文
