Development of Fine Devices Using Proton Microbeam
Development of Fine Devices Using Proton Microbeam
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利用质子微束开发精细器件
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Ohkubo and Y. Ishii
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Sakai;R. Yasuda;H. Iikura;T. Nojima;M.Matsubayashi;M. Koka;T. Sato;T. Ohkubo and Y. Ishii
