ESD protection design for I/O libraries in advanced CMOS technologies
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DOI：
10.1016/j.sse.2008.05.008
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发表时间：
2008-08
影响因子：
1.7
通讯作者：
O. Semenov;S. Somov
中科院分区：
文献类型：
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作者：
O. Semenov;S. Somov
