ナノ構造体による回折現象を利用した無標識検出法
ナノ構造体による回折現象を利用した無標識検出法
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利用纳米结构引起的衍射现象的无标记检测方法
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
馬場嘉信
中科院分区：
文献类型：
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作者：
安井隆雄;加地範匡;岡本行広;渡慶次学;堀池靖浩;馬場嘉信
