Evaluation of strongly non-linear surface-stress fields σxx(z) and σyy(z) from diffraction experiments
Evaluation of strongly non-linear surface-stress fields σxx(z) and σyy(z) from diffraction experiments
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通过衍射实验评估强非线性表面应力场 σxx(z) 和 σyy(z)
DOI：
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发表时间：
1989
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Krier
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Ruppersberg;I. Detemple;J. Krier
对于单相多晶材料，讨论了从 X 射线衍射实验获得的弹性应变 ϵ(ψ, φ) 与应力分量 σφ(σ) 和 σφ+90(z) 相对于距样品外表面距离 z 的多项式展开之间的关系。提出了针对不同辐射穿透深度 τ0 和不同反射晶格平面测量的 ϵ(ψ, τ0, (hkl)) = ½ (ϵ(φ) + ϵ(ψ + 90)) 曲线的通用图。该表达式还允许对 ϵ 值进行绝对缩放。该形式用于讨论冷轧镍板同步辐射获得的 ϵ(ψ, φ, τ0, (hkl)) 曲线。它们表明约两微米厚的表面层中应力的强烈非线性变化。
在整个过程中，水晶工厂将在 σφ(z) 和 σφ+90(z) 误差范围内消除所有的误差。 ϵ(ψ, φ0, (hkl)) = ½(ϵ(ψ) + ϵ(ψ + 90))-Kurven vorgeschlagen，该模型相信 Eindringtiefen τ0 和 reflektierende Netzebenen ermittelt werden。 Es ergibt sich daraus auch die Moglichkeit, ϵ Absolute zu bestimmen。形式主义与 ϵ(ψ, φ, τ0, (hkl))-Kurven angewendet, die mittels Synchrotronstrahlung Fur ein kaltgewalztes Nickelblech erhalten wurden.在此情况下，在 2 μm 的 Oberflachenschicht 中会产生明显的线性变化。
For single-phase polycrystalline materials the relation is discussed between the elastic strain ϵ(ψ, φ) obtained from X-ray diffraction experiments and the polynomial expansion of the stress components σφ(σ) and σφ+90(z) with respect to the distance z from the external surface of the specimen. A universal plot is proposed for ϵ(ψ, τ0, (hkl)) = ½ (ϵ(φ) + ϵ(ψ + 90)) curves measured for different penetration depths τ0 of the radiation and for different reflecting lattice planes. This expression also allows absolute scaling of the ϵ values. The formalism is applied for discussing ϵ(ψ, φ, τ0, (hkl)) curves obtained with synchrotron radiation from a cold-rolled nickel plate. They indicate strongly non-linear variations of stress in a surface layer about two μm thick.
Fur einphasige vielkristalline Werkstoffe wird der Zusammenhang zwischen rontgenographisch ermittelten Dehnungen ϵ(ψ, φ) und den nach dem Abstand z von der Grenzflache in Reihe entwikkelten Spannungskomponenten σφ(z) und σφ+90(z) erortert. Es wird eine universelle Auftragung fur ϵ(ψ, φ0, (hkl)) = ½(ϵ(ψ) + ϵ(ψ + 90))-Kurven vorgeschlagen, die fur beliebige Eindringtiefen τ0 und reflektierende Netzebenen ermittelt werden. Es ergibt sich daraus auch die Moglichkeit, ϵ absolut zu bestimmen. Der Formalismus wird auf ϵ(ψ, φ, τ0, (hkl))-Kurven angewendet, die mittels Synchrotronstrahlung fur ein kaltgewalztes Nickelblech erhalten wurden. Es ergeben sich stark nichtlineare Spannungsanderungen in einer etwa 2 μm dicken Oberflachenschicht.