X-ray beam position monitor to mitigate influence of filling pattern at SPring-8
X-ray beam position monitor to mitigate influence of filling pattern at SPring-8
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X 射线束位置监视器可减轻 SPring-8 填充图案的影响
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋 直
中科院分区：
文献类型：
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作者：
青柳 秀樹;高橋 直
