X-ray Diffraction Study of Electric-field-induced Strains in Polycrystalline BiFeO_<3> Thin Films at Low Temperature Using Synchrotron Radiation
X-ray Diffraction Study of Electric-field-induced Strains in Polycrystalline BiFeO_<3> Thin Films at Low Temperature Using Synchrotron Radiation
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利用同步辐射的X射线衍射研究低温多晶BiFeO_<3>薄膜中电场引起的应变
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Nakashima;H.Fujisawa;et al.
