OISD MOSFET阈值电压建模与结构设计

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DOI:
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发表时间:
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期刊:
微电子学与计算机
影响因子:
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通讯作者:
高珊
高珊
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
柯导明;陈军宁;孟坚;高珊

文献摘要

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