Imaging of Sub-nanometer Strain Variations in Monolayer Defect-Free Graphene using Tip-Enhanced Raman Spectroscopy
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使用尖端增强拉曼光谱对单层无缺陷石墨烯中的亚纳米应变变化进行成像
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Takuo Tanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Maria Balois*;Norihiko Hayazawa;Satoshi Yasuda;Katsuyoshi Ikeda;Bo Yang;Emiko Kazuma;Yasuyuki Yokota;Yousoo Kim;and Takuo Tanaka
