導電性ナノプローブ用いた静電引力測定によるCu(In,Ga)Se2中のCd拡散効果の解析
導電性ナノプローブ用いた静電引力測定によるCu(In,Ga)Se2中のCd拡散効果の解析
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使用导电纳米探针通过静电吸引测量分析 Cu(In,Ga)Se2 中 Cd 扩散效应
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋 琢二
中科院分区：
文献类型：
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作者：
福澤 亮太;峯元 高志;高橋 琢二
