Device attestation: Past, present, and future
Device attestation: Past, present, and future
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设备认证：过去、现在和未来
DOI：
10.23919/date.2018.8342055
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Jin, Yier
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Arias, Orlando;Rahman, Fahim;Tehranipoor, Mark;Jin, Yier
DOI：
10.7916/d8p55nkb
发表时间：
2013
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Ang Cui;Michael Costello;S. Stolfo
通讯作者：
Ang Cui;Michael Costello;S. Stolfo