Electronic Structure of La_<0.6>Sr_<0.4>FeO_3/MgO Thin Film by Soft-X-Ray Spectroscopy
Electronic Structure of La_<0.6>Sr_<0.4>FeO_3/MgO Thin Film by Soft-X-Ray Spectroscopy
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软X射线能谱研究La_<0.6>Sr_<0.4>FeO_3/MgO薄膜的电子结构
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J.Guo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Higuchi;M.Matsumoto;W.Yang;P.Velasco;J.Chen;Y.Liu;J.Guo
