ダイヤモンドMOSFETの容量電圧測定によるMOS構造のエネルギー構造の解析
ダイヤモンドMOSFETの容量電圧測定によるMOS構造のエネルギー構造の解析
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通过测量金刚石MOSFET电容电压分析MOS结构的能量结构
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
嘉数 誠
中科院分区：
文献类型：
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作者：
原田和也;平間一行;古賀優太;大石敏之;嘉数 誠
