M.Ishikawa, M.Yoshimura, K.Ueda: "Simultaneous measurement of topography and contact current by contact mode atomic force microscopy with carbon nanotube probe""Jpn.J.Appl.Phys.. 41. 4908-4910 (2002)
M.Ishikawa, M.Yoshimura, K.Ueda: "Simultaneous measurement of topography and contact current by contact mode atomic force microscopy with carbon nanotube probe""Jpn.J.Appl.Phys.. 41. 4908-4910 (2002)
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M.Ishikawa、M.Yoshimura、K.Ueda：“通过使用碳纳米管探针的接触模式原子力显微镜同时测量形貌和接触电流””Jpn.J.Appl.Phys.. 41. 4908-4910 (2002)
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