Influence of ultra-thin YSZ layer on heteroepitaxial CeO2/YSZ/Si(001) films analyzed by X-ray reciprocal space map
Influence of ultra-thin YSZ layer on heteroepitaxial CeO2/YSZ/Si(001) films analyzed by X-ray reciprocal space map
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DOI：
10.1016/s0022-0248(00)00615-1
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发表时间：
2000-10
影响因子：
1.8
通讯作者：
Chun-Hua Chen;A. Saiki;N. Wakiya;K. Shinozaki;N. Mizutani
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Chun-Hua Chen;A. Saiki;N. Wakiya;K. Shinozaki;N. Mizutani
