A novel fine deposition technique using ananopipette probe microscope capable of irradiation of alocalized APPJ
A novel fine deposition technique using ananopipette probe microscope capable of irradiation of alocalized APPJ
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一种新型精细沉积技术，使用能够照射局部 APPJ 的纳管探针显微镜
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and F. Iwata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Yamamoto;D. Morimatsu;M. Shimomura;A. Ogino;M. Nagatsu;and F. Iwata
