K.Masu: "In Situ Observation of Electromigration in Cu Film Using Scanning μ-Reflection High-Energy Electron Diffraction Microscope" Jpn.J.Appl.Phys.30(12b). 3642-3645 (1991)
K.Masu: "In Situ Observation of Electromigration in Cu Film Using Scanning μ-Reflection High-Energy Electron Diffraction Microscope" Jpn.J.Appl.Phys.30(12b). 3642-3645 (1991)
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K.Masu：“使用扫描 μ 反射高能电子衍射显微镜原位观察铜膜中的电迁移”Jpn.J.Appl.Phys.30(12b) 3642-3645 (1991)。
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