Theoretical investigation on force sensitivity in Q-controlled phase modulation atomic force microscopy in constant-amplitude mode
Theoretical investigation on force sensitivity in Q-controlled phase modulation atomic force microscopy in constant-amplitude mode
复制标题
恒幅模式调Q相位调制原子力显微镜力灵敏度的理论研究
DOI：
10.1063/1.2890380
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
M. Kageshima and Y. Sugawara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Kobayashi;Y. J. Li;Y. Naitoh;M. Kageshima and Y. Sugawara
