Study on the bias-dependent effects of proton-induced damage in CdZnTe radiation detectors using ion beam induced charge microscopy
Study on the bias-dependent effects of proton-induced damage in CdZnTe radiation detectors using ion beam induced charge microscopy
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使用离子束诱导电荷显微镜研究 CdZnTe 辐射探测器中质子诱导损伤的偏压相关效应
DOI：
10.1016/j.micron.2016.06.003
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
2.4
通讯作者：
Xi Shouzhi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Gu Yaxu;Jie Wanqi;Rong Caicai;Xu Lingyan;Xu Yadong;Lv Haoyan;Shen Hao;Du Guanghua;Guo Na;Guo Rongrong;Zha Gangqiang;Wang Tao;Xi Shouzhi
