Studies of High Level Design Aware Test Generation at Gate Level
Studies of High Level Design Aware Test Generation at Gate Level
复制标题
门级高级设计感知测试生成的研究
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Toshinori Hosokawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Mamoru Sato;Tetsuya Masuda;Jun Nishimaki;Toshinori Hosokawa and Hideo Fujiwara;Toshinori Hosokawa
