Complex dielectric function of thiazolothiazole thin films determined by spectroscopic ellipsometry
Complex dielectric function of thiazolothiazole thin films determined by spectroscopic ellipsometry
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光谱椭圆光度法测定噻唑并噻唑薄膜的复介电函数
DOI：
10.1364/ome.487598
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发表时间：
2023
影响因子：
2.8
通讯作者：
Hofmann, Tino
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Shuchi, Nuren;Mower, Jackson;Stinson, V. Paige;McLamb, Micheal J.;Boreman, Glenn D.;Walter, Michael G.;Hofmann, Tino
