A Nondestructive Method for Measuring the Spatial Distribution of Minority Carrier Lifetime in Silicon Wafer
A Nondestructive Method for Measuring the Spatial Distribution of Minority Carrier Lifetime in Silicon Wafer
复制标题
硅片少数载流子寿命空间分布的无损测量方法
DOI：
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发表时间：
1979
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Mada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Mada
