TDCを組み込んだバウンダリスキャンを用いる複数パスの遅延検査について
TDCを組み込んだバウンダリスキャンを用いる複数パスの遅延検査について
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关于使用结合 TDC 的边界扫描进行多路径延迟测试
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
四柳浩之
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Keigo Hamada;Hiroyuki Yotsuyanagi;Masaki Hashizume;四柳浩之
