S.M.Tadayyon: "Interdiffusion in Pd/Ti bilayer films studied by Auger electron depth profiling" Japanese Journal of Applied Physics. 32. 3928-3932 (1993)
S.M.Tadayyon: "Interdiffusion in Pd/Ti bilayer films studied by Auger electron depth profiling" Japanese Journal of Applied Physics. 32. 3928-3932 (1993)
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S.M.Tadayyon：“通过俄歇电子深度剖析研究 Pd/Ti 双层薄膜中的相互扩散”，《日本应用物理学杂志》。
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