Direct Observation of Electronic Structures in High-k Based Devices under Device Operation
Direct Observation of Electronic Structures in High-k Based Devices under Device Operation
复制标题
在器件运行下直接观察基于高 k 的器件中的电子结构
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yoshiyuki Yamashita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Tsushima;S. Mori;Y. Nishimura;K. Hishii; K. Kasahara;T. Yaji;H. Miyazaki;N. Ikeda;M. Ochiai; H. Oosato;and Y. Sugimoto;Yoshiyuki Yamashita
