Effect of Surface Stress around the SA Step of Si(001) on the Dimer Structure Determined by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5K
Effect of Surface Stress around the SA Step of Si(001) on the Dimer Structure Determined by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5K
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5K 下非接触原子力显微镜测定 Si(001) SA 台阶周围表面应力对二聚体结构的影响
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Sugawara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Naitoh;Y.J.Li;H.Nomura;M.Kageshima;Y.Sugawara
