DFT study on structure and anisotropy of high N-atom density layer in 4H-SiC
DFT study on structure and anisotropy of high N-atom density layer in 4H-SiC
复制标题
4H-SiC高氮原子密度层结构及各向异性的DFT研究
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Mitsuharu Uemoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Naoki Komatsu;Yoshiyuki Egami;Tomoya Ono;Mitsuharu Uemoto
