Nanometer-scale four-point probe resistance measurements of nanowires using carbon nanotube tips
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使用碳纳米管尖端对纳米线进行纳米级四点探针电阻测量
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Hasegawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Tono;Y. Kitaoka;S. Yoshimoto;T. Hirahara;T. Ohba;S. Hasegawa
