High-resolution excitation spectroscopy of delayed detachment of Si2-
High-resolution excitation spectroscopy of delayed detachment of Si2-
复制标题
Si2-延迟脱离的高分辨率激发光谱
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Haruo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Iida;Shimpei; Hansen;Klavs; Zhaunerchyk;Vitali; Kuma;Susumu; Matsumoto;Jun; Furukawa;Takeshi; Azuma;Toshiyuki; Tanuma;Hajime; Shiromaru;Haruo
