高知コア研究所におけるSIMSを用いた高精度局所同位体比分析法開発の取り組みと、今後の研究の展 望
高知コア研究所におけるSIMSを用いた高精度局所同位体比分析法開発の取り組みと、今後の研究の展 望
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高知核心研究所利用SIMS开发高精度局部同位素比分析方法的努力及未来研究展望
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tsuyoshi Ishikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takayuki Ushikubo;Motoo Ito;Naotaka Tomioka;Kenji Shimizu;Tsuyoshi Ishikawa
