TEMとRHEEDによるPd/Ag(111)界面の格子定数評価

TEMとRHEEDによるPd/Ag(111)界面の格子定数評価
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用TEM和RHEED评估Pd/Ag(111)界面的晶格常数

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
平山 博之
平山 博之
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
青木 悠樹;中辻 寛;平山 博之

文献摘要

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