Why current secure scan designs fail and how to fix them?
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DOI：
10.1016/j.vlsi.2016.10.011
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Aijiao Cui;Yanhui Luo;Huawei Li;G. Qu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Aijiao Cui;Yanhui Luo;Huawei Li;G. Qu
