C.W.Lee et al.: "Thickness Measurements of Amorphous Sio_2 by EELS and Electron Holography"Mater. Trans. JIM. Vol.41. 1129-1131 (2000)
C.W.Lee et al.: "Thickness Measurements of Amorphous Sio_2 by EELS and Electron Holography"Mater. Trans. JIM. Vol.41. 1129-1131 (2000)
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C.W.Lee 等人：“通过 EELS 和电子全息术测量非晶态 Sio_2 的厚度”材料。
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