SNaP: A novel hybrid method for circuit reliability assessment under multiple faults

SNaP: A novel hybrid method for circuit reliability assessment under multiple faults
复制标题

SNaP:多种故障下电路可靠性评估的新型混合方法

DOI:
--
复制
发表时间:
2013
期刊:
Microelectronics and reliability
影响因子:
--
通讯作者:
J. Naviner
J. Naviner
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
S. Pagliarini;Arwa Ben Dhia;L. Naviner;J. Naviner

文献摘要

被引文献

相似文献