3D Force Vector Detection above Ge(001)-c(4x2) Surface at Atomic Scale with Multi-Frequency Atomic Force Microscopy
3D Force Vector Detection above Ge(001)-c(4x2) Surface at Atomic Scale with Multi-Frequency Atomic Force Microscopy
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使用多频原子力显微镜在原子尺度上对 Ge(001)-c(4x2) 表面进行 3D 力矢量检测
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Sugawara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Naitoh;Y. Sugawara
